瑞士测量仪器

ULM 校准工作台 Labconcept Nano

校准台 Trimos Labconcept Nano
平环的校准
校准小型平滑环规
螺纹环的校准
塞规的校准
螺纹插头的校准
比对仪检查块加 250 毫米
校准测量杆
检查锥螺纹环规
检查锥螺纹塞规
卡规的校准
带自动反转点搜索功能的数控测量仪
数控内锥环测量
数控外锥环测量
轴承套圈的数控内部测量
轴承套圈的数控外部测量
特定量具的校准

校准滑环

(TA-MI-372，TA-SU-354）。

小型平滑环规的校准

(TA-MS-370/TEL76/TA-SU-354)

螺纹环的校准

（TA-MS-370，TEL75，TA-SU-354）

校准塞规

(TULM6/L05/TA-SU-315)

螺纹插头的校准

（3P/0.17-3.2/S6.5，TA-SU-315，TEL6）

量块比较检查 > 250mm

(TA-SU-303/TEL7/TELMA7)

校准测量杆

(telma7/telmn7.2)

检查锥螺纹环规

(TA-MS-381/TEL75)

检查锥螺纹塞规

(TA-MS-381/TEL75)

校准卡规

(tel16.1/tel14n)

数控测量，自动搜索反转点

数控内锥环测量

数控外锥环测量

轴承套圈的数控内部测量

轴承套圈的数控外部测量

校准特定量具

校准台 Trimos Labconcept Nano
平环的校准
校准小型平滑环规
螺纹环的校准
塞规的校准
螺纹插头的校准
比对仪检查块加 250 毫米
校准测量杆
检查锥螺纹环规
检查锥螺纹塞规
卡规的校准
带自动反转点搜索功能的数控测量仪
数控内锥环测量
数控外锥环测量
轴承套圈的数控内部测量
轴承套圈的数控外部测量
特定量具的校准

尺寸Métrologie领域的新标准。超精确测量系统与 XYZ 轴电动化的独特组合使其成为市场上性能最佳的校准系统。

价格要求
演示申请

Labconcept Nano 是 ULM 在尺寸Métrologie领域的新标准。它融合了 50 年的知识和不断改进的技术。对于所有需要极高精度的测量任务而言，它都是一款卓越的仪器。

Labconcept Nano 的设计毫不妥协，为各种量具和测量仪器的检查和校准提供了一个理想的高性能平台。通过 XYZ 三个电动轴和 Trimos WinDHI 软件的传奇简便性，内部和外部尺寸的检查将以全自动的方式进行。

Labconcept Nano 通用长度测量仪完全按照最高质量标准在瑞士设计和制造。坚固、可靠和使用寿命长是我们的传统价值观。

Labconcept Nano 结合了传统、经验和强大的技术领先优势。它集成了最新的测量和电动技术，可被视为第一台 "全数字 "校准仪器。一台普通 PC 控制所有电子元件。这种低功耗解决方案可避免发热，并将能源、维护和维修成本保持在合理水平。所有导轨中使用的直线轴承在精度、磨损、刚度、温度稳定性、可靠性、防尘和维护方面都已证明优于所有其他技术。它们可确保长期保持卓越的可重复性和精度。

  • 无与伦比的精确度
  • 卓越的重复性
  • 电动数控轴 X、Y 和 Z
  • 通过软件选择位移速度
  • 测量力（0-12 N）和测量砧的锁定由软件完成
  • 集成温度补偿系统
  • 所有型号的绝对测量范围350 毫米
  • 应用范围350、600 和 1100 毫米
  • 测量重达 60 千克的部件
  • 标准套件中的 2 个屏幕
  • 直径和螺纹测量均由 CNC 控制

延长保修

延长保修

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文件

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技术细节

纳米实验室概念3506001100
应用范围 *毫米（英寸） 350 (13.2)600 (23.6)1100 (43.3)
绝对测量范围*毫米（英寸） 350 (13.2)
最大允许误差，BMPE 1) 微米0.07 + L（毫米）/2000
重复性，RMPE（2 秒）1)微米0.03
最大分辨率毫米（英寸）0.000001 (0.0000001)
测量力（可通过软件调节）N0.32,3)/ 0.52,3)/ 1 ÷ 123 )
运行温度°C+15 ÷ +35
储存温度°C-10 ÷ +40
相对湿度%20 ÷ 80
重量公斤350420500
1) 在温度为 20 ± 0.2 °C 和相对湿度为 50 ± 5 % 的条件下测定的数值。
2) 使用电子传感器
3) 仅在 WinDHI 软件窗口上显示力值
* 测量范围取决于所使用的砧座。

带电动 Y 轴和 Z 轴的测量台
Z 轴，位移范围1)毫米（英寸）80 (3)
Y 轴，位移范围1)毫米（英寸）50 (2)
X 轴，浮动运动毫米（英寸）± 10
倾斜角 (Y)°± 1.5
旋转角度 (Z)°± 4
部件最大重量公斤60
1) Y 轴和 Z 轴都有一个综合测量系统。